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公司新聞

氣相色譜中為什么會(huì)出現(xiàn)異常峰?

發(fā)布時(shí)間:2019-11-01 閱讀:301

在日常色譜定量分析中,出現(xiàn)色譜峰形異變或鬼峰,不但嚴(yán)重影響定量精度,甚使分析工作無(wú)法進(jìn)行,今天和大家一起把峰形異變常見(jiàn)類型加以分析,并給出可能原因。

 

1、臺(tái)階峰

(1)TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕;

(2)氣體流量突變?nèi)纾鹤⑸鋲|突然漏氣,氣路受阻等;

(3)記錄色譜峰裝置故障如:拉線松;

 

2、負(fù)峰

(1)TCD用氮做載氣,由于待測(cè)組分在N2中濃度不同,熱傳導(dǎo)值呈現(xiàn)非線性而可能出現(xiàn)負(fù)峰,有時(shí)可以通過(guò)改變載 氣流量或進(jìn)樣量克服;

(2)操作ECD時(shí)進(jìn)樣量過(guò)大而出負(fù)峰,這是由于工作原理由電子捕獲轉(zhuǎn)變?yōu)殡婋x檢測(cè),此時(shí)靈敏度還會(huì)大大降低;

(3)操作FID,低電離效率的溶劑(如,CS2)或雜質(zhì)出現(xiàn),使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負(fù)峰;

(4)操作FID,在無(wú)化電壓,樣品量較大可能出現(xiàn)負(fù)峰;

(5)操縱NPD、FPD時(shí)氣流比不合適,溶劑或某些組分會(huì)出現(xiàn)負(fù)峰;

 

3、“N”或“W”形峰

(1)TCD操作,用N2作載氣由于熱傳導(dǎo)率非線性引起;

(2)FID操作時(shí),樣品溶劑電離效率低(如,CS2),或氣流比欠時(shí);

(3)ECD操作時(shí),由于檢測(cè)器被污染,溶劑峰或待測(cè)組分含量較高,或脈沖電源有毛病;

 

4、峰

(1)汽化溫度偏低;

(2)載氣流量小:

(3)進(jìn)樣量大,汽化時(shí)間長(zhǎng);

(4)汽化室被污染,樣品有吸附效應(yīng);

(5)樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染;

(6)進(jìn)樣技術(shù)差(揮發(fā)性組分的進(jìn)樣速度太慢);

(7)峰前出現(xiàn)了“鬼”峰。

 

5、拖尾峰

(1)色譜柱安裝不合格,樣品不能以“塞子”形進(jìn)入色譜柱,柱與檢測(cè)器安裝的死體積太大;

(2)樣品未能注射入柱頭中(柱頭進(jìn)樣方式);

(3)汽化管沒(méi)有安裝好或破損,樣品只能脫尾進(jìn)入色譜柱;

(4)化室的溫度低或偏高;

(5)載氣流量偏低;

(6)進(jìn)樣量大;

(7)載氣系統(tǒng)(如注射墊處)有漏氣;

(8)進(jìn)樣器(汽化室),被樣品中高沸點(diǎn)雜質(zhì)或注射墊殘?jiān)廴荆?

(9)色譜柱被污染使被分析組分和高沸點(diǎn)污染物作用;

(10)補(bǔ)充氣未開(kāi)或偏低;

(11)色譜柱溫度偏低或失效;

(12)甲烷化Ni催化劑失效;

(13)進(jìn)樣技術(shù)差(如速度不合適);

(14)正好有干擾峰(鬼峰)出現(xiàn)(如誤用被污染的注射針);

(15)無(wú)化電壓(FID),此時(shí)伴隨靈敏度偏低;

(16)樣品前處理有毛??;

 

6、出峰后基線下移

(1)樣品量大,特別是溶劑改變了工作狀態(tài)

(2)FID被污染狀況發(fā)生改變,或氣流比發(fā)生變化;

(3)系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣,或出現(xiàn)堵塞;

(4)色譜柱被污染;

(5)樣品處理不當(dāng),如:樣品中有些物質(zhì)和固定相發(fā)生作用;

 

7、程序升溫時(shí)基流增加,噪聲增加

(1)色譜柱需重新老化或失效;

(2)新?lián)Q載氣純度欠;

(3)過(guò)濾器失效;

(4)樣品前處理不當(dāng),如:雜質(zhì)干擾物太多;

(5)靈敏度太高。

(6)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設(shè)置不合理。

 

8、圓頂寬峰

(1)樣品量大起出了色譜柱容量;

(2)汽化溫度低;

(3)色譜柱沒(méi)按要求安裝;

(4)檢測(cè)器工作狀態(tài)不對(duì),如載氣太小、沒(méi)開(kāi)補(bǔ)充氣;

(5)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)(半峰寬)設(shè)置偏大;

 

9、平頂峰(未到滿量程)

(1)樣品量大,放大器量程高,衰減大,信號(hào)輸出飽和;

(2)檢測(cè)器已工作在飽和區(qū);

(3)數(shù)據(jù)處理輸入信號(hào)性接錯(cuò),或零點(diǎn)失調(diào);

 

10、基線出現(xiàn)波浪狀峰

(1)高靈敏度操作儀器未穩(wěn)定之前;

(2)操作TCD、ECD時(shí),柱箱或檢測(cè)器箱溫度周期變化;

(3)環(huán)境溫度對(duì)儀器控溫影響;

(4)電壓不穩(wěn),對(duì)柱溫控制精度影響;

(5)過(guò)溫保護(hù)設(shè)置低于控制溫度;

(6)壓力(流量)調(diào)節(jié)閥失調(diào),周期變化;

 

11、原來(lái)能分開(kāi)的峰分不開(kāi)

(1)色譜柱安裝不合要求 ;

(2)色譜柱被污染,需重新活化 ;

(3)色譜柱壽命已到,需換;

(3)新?lián)Q的氣源,純度不;

(4)濾器失效,重新老化或換;

(5)色譜柱溫度和載氣流量需要微調(diào)優(yōu)化(色譜分析一般允許);

(6)檢測(cè)器工作狀態(tài)變化(如ECD漏氣、FID氣流比欠);

(7)汽化室被污染,注射墊漏氣;

(8)樣品處理不當(dāng),雜質(zhì)干擾物太多;

(9)樣技術(shù)太差;

(10)進(jìn)樣量超出了色譜柱容量;

(11)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù),半峰寬或斜率設(shè)置不合理;

(12)放大器量程或衰減設(shè)置失誤;

 

12、直角峰

(1)儀器輸出負(fù)信號(hào)超出了數(shù)據(jù)處理的范圍;

(2)數(shù)據(jù)處理裝置零點(diǎn)未校正,或量程設(shè)置太大無(wú)法判斷基線位置;

(3)數(shù)據(jù)處理裝置輸入信號(hào)性接反,零點(diǎn)設(shè)置不對(duì);

 

13、帶毛刺峰

(1)儀器工作不穩(wěn)定,噪聲大于要求;

(2)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù),半峰寬和斜率設(shè)置太?。?

(3)化電壓(FID)不穩(wěn);

 

14、條件未變,能判別的峰不見(jiàn)了

(1)色譜柱被污染或失效;

(2)氣路系統(tǒng)被污染(如氣源純度低,過(guò)濾器失效);

(3)注射墊漏氣;

(4)注射針密封性差;

(5)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù),如:半峰寬和斜率設(shè)置偏大;

(6)進(jìn)樣方法不對(duì);

 

15、“鬼峰”(怪峰,多余峰,記憶峰)

(1)上一次進(jìn)樣的高沸點(diǎn)雜質(zhì)峰自然流出;

(2)載氣不純過(guò)濾器失效使低沸點(diǎn)的污染物冷凝在色譜柱頭,程序升溫時(shí)正常流出;

(3)注射墊未經(jīng)老化或無(wú)隔墊清洗而出的污染峰;

(4)汽化溫度太高或嚴(yán)重污染使樣品某些組分分解;

(5)樣品某些組分與被污染固定相產(chǎn)生了作用;

(6)色譜柱溫度太高固定相分解;

(7)使用了被污染的注射針( 本身不合格,手摸或進(jìn)過(guò)易污染的樣品);

(8)樣品予處理不完善或用錯(cuò)溶劑;

(9)樣品中有空氣;

(10)TCD、ECD等密封性差(漏氣);

(11)電源不穩(wěn),對(duì)控溫或放大器有不良影響

(12)色譜柱堵塞物使用不當(dāng),如玻璃棉未按要求進(jìn)行處理。

 





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